測量緊固件電鍍層鋅zn鎳ni銅cr鎘cdOXFORD-243E 探頭小儀器
OXFORD-243E手持式測厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具
OXFORD-243E是一款靈便、易用的儀器，專為金屬表面處理者設(shè)計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具。采用基于相位的電渦流技術(shù)。
OXFORD-243E手持式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
OXFORD-243E涂層測厚儀功能與特點(diǎn)
測量技術(shù)：
一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對金屬性鍍層厚度的測量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的度。
牛津儀器對電渦流技術(shù)的應(yīng)用，將底材效應(yīng)化，使得測量且不受零件的幾何形狀影響。
另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)
優(yōu)勢：
1、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測量、價格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢于一體的手持式測厚儀。
2、專為金屬表面處理者設(shè)計。配置的單探頭可測量，鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測量。
3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購買OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
OXFORD-243E涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù)及功能：
- 準(zhǔn)確度：相對標(biāo)準(zhǔn)片±3%
- 度：0.3%
- 分辨率：0.1μm
- 電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
- 存儲量：26,500 條存儲讀數(shù)
- 尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
- 重量：0.26 kg 包括電池
- 單位：英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
- 接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計算機(jī)
- 顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示
- 電池：9伏堿性電池，65小時連續(xù)使用
的ECP-M探頭
ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計，此單探頭可以測量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。
測量范圍：
鐵上鍍層 鍍層厚度范圍 探頭
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
凸面半徑 1.143
凹面半徑 1.524
測量高度 101.6
測量直徑 2.286
底材 304.8
OXFORD-243E涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
OXFORD-243E涂層測厚儀可選配
| OXFORD-243E | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 |
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| OXFORD-243E | |
| 可選配 |
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XFORD-243E涂層測厚儀其它說明-細(xì)節(jié)圖展示-牛津涂層標(biāo)準(zhǔn)樣樣塊
