智博通科技有限公司(圖)-落地式火花直讀光譜儀-光譜儀
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X射線熒光光譜儀 X-Strata 920
根據所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結構不同，當被激發后發射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。
德國斯派克臺式緊湊型直讀光譜儀SPECTROCHECK高質量 光譜分析儀
SPECTROCHECK以嶄新專利光學技術實現突破。光學系統結合了多檢測器多色儀和波長選定映像反饋技術（SWIFT）。光學室隔離恒溫，確保穩定運行。內部流動沖洗技術保證紫外光通光率。
這樣的設計方案可以實現全部應用相關光譜范圍高精度性能。SPECTROCHECK優化鑄造金屬元素選擇設計方案。因此可以減少光譜干擾，光譜儀，使得分析譜線從大量干擾譜線中“脫穎而出”。
全新的軟件界面展示了清晰，友好的顯示風格。基于按鈕的，無菜單的日常操作界面，光譜儀操作方法，使得SPECTROCHECK簡單易用。
而且，獨特的插件式模塊設計使得用戶可以根據需要定制功能。用戶可以根據樣品類別選擇所需的插件模塊，也可以在屏幕添加新增插件。用戶很容易掌握操作要領。
全新的，簡單透徹的軟件風格，直讀光譜儀，用戶不需長時間操作培訓即可使用。用戶可以快速上手，直觀操作。
德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12
建立光學系統技術新標準
2007年SPECTROLAB創造了先鋒技術“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學系統，為高l端直讀光譜儀光學技術樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術至新的境界。
兩種創造性的光學系統技術
無論第三代“混合動力”雙檢測器光學系統還是全CCD光學系統都創造性地為金屬工業提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩定性和高精度的嚴格要求。使其尤其適于檢測新材料，光電直讀光譜儀，痕量分析，夾雜物，高純金屬以及貴金屬。全CCD光學系統兼具驚人的重要性，穩定性和快速分析。便捷的ICAL智能標準化大大縮短儀器校正時間。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質量檢驗需要的。不僅于此，SPECTROLAB專利的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國專利證書編號：8，976，350，B2
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